上海科斯泰克設備銷售有限公司
網站標題

清空記錄

曆史記錄

清空記錄

曆史記錄

取消

清空記錄

曆史記錄

上海科斯泰克設備銷售有限公司
    當前位置:
  • 首頁>
  • 產品中心>
  • 超高真空組件>
  • 俄歇電子能量譜組件

產品中心

俄歇電子能量譜組件
分享

分享到微信

×
俄歇電子能量譜組件是利用高能電子束激發樣品表麵原子,發射具有元素特征能量的俄歇電子。可進行表麵微區分析(得益於電子束可聚焦掃描),能獲得元素分布圖像(俄歇元素像)。應用於材料表麵分析、催化、吸附、腐蝕、磨損等研究。
產品詳情

俄歇電子能譜組件(AES、Auger)是一種利用高能電子束為激發源的表麵分析技術. AES分析區域受激原子發射出具有元素特征的俄歇電子。俄歇電子在固體中運行也同樣要經曆頻繁的非彈性散射,能逸出固體表麵的

隻是表麵幾層原子所產生的俄歇電子,這些電子的能量大體上處於 10~500電子伏,它們的平均自由程很短,大約為5~20埃,因此俄歇電子能譜所考察的隻是固體的表麵層。俄歇電子能譜通常用電子束作輻射源,電

子束可以聚焦、掃(sao)描(miao),因(yin)此(ci)俄(e)歇(xie)電(dian)子(zi)能(neng)譜(pu)可(ke)以(yi)作(zuo)表(biao)麵(mian)微(wei)區(qu)分(fen)析(xi),並(bing)且(qie)可(ke)以(yi)從(cong)熒(ying)光(guang)屏(ping)上(shang)直(zhi)接(jie)獲(huo)得(de)俄(e)歇(xie)元(yuan)素(su)像(xiang)。是(shi)考(kao)察(cha)固(gu)體(ti)表(biao)麵(mian)的(de)強(qiang)有(you)力(li)工(gong)具(ju),用(yong)於(yu)各(ge)種(zhong)材(cai)料(liao)分(fen)析(xi)以(yi)及(ji)催(cui)化(hua)、吸附、腐蝕、磨損等方麵的研究。

我司的microCMA 操作簡單,易於維護,提供完整的定量表麵敏感元素俄歇電子 (AES) 分析儀套件,可安裝在 2.75" / 70 mm CF 法蘭上,光學元件末端到采樣距離為4 mm由於microCMA非常小,因此同軸內置

電子槍被限製在3 kV。對於元素分析,microCMA比單獨的XPS係統便宜得多。 完整的AES係統包括圓柱形鏡麵分析儀(帶有集成的同軸電子槍),USB接口控製器以及Windows采集和數據按摩軟件。讓俄歇分析變

得簡單! 

microCMA是一款俄歇光譜圓柱鏡分析儀,專為許多不需要AES映射功能的俄歇分析應用而設計,這些應用包括分析:

  • 薄膜元素組合物

  • 樣品清潔度

  • 金屬成分熱氧化物

  • 輕元素表麵膜的量化

特征:

緊湊的結構:適用於 2.75" / 70 mm CF 法蘭(1.52" / 38.6 mm 內徑管)。 現在可以隻用一個T型離子泵構建一個俄歇光譜係統!

久經考驗的設計:柱麵鏡分析器的二階聚焦提供了良好的傳遞效果和優異分辨率。

易於使用:USB控製和俄歇數據信息分析軟件界麵易於使用,使俄歇分析變得容易。

強力功能:俄歇光譜(AES)是一種可為您提供樣品表麵數層的定量信息的強力表麵靈敏技術。

優勢:

microCMA的小直徑使其適合現有的沉積或分析室。

由於microCMA基於經典的圓柱形鏡麵分析儀設計,因此與較大的CMA相比,它具有相似的信噪比。基本上,microCMA收集的電子與較大的CMA相同;它隻是收集更接近樣品的電子。

集成的 3 kV 電子槍簡化了 CMA 到樣品的對準。

電子槍具有自動功能,例如熱身和調節。

microCMA非常適合薄膜的元素表麵分析和檢查樣品的清潔度。

CMapp Auger 軟件提供對采集參數的完全控製,然後量化采集後的數據。

應用參考:

室溫和100℃環境下利用連續表麵反應進行結晶氮化镓薄膜的電子增強生長 - Sprenger,Sun,Cavanagh,Roshko,Blanchard,George,材料化學,U. Colorado – 2016

抑製二次電子噪聲的微型柱麵鏡俄歇電子能量分析儀的設計與仿真 - Jay A. Bieber,南佛羅裏達大學 – 2017

在室溫和100°C下氮化硼薄膜的電子增強原子層沉積 - Sprenger,Sun,Cavanagh,Roshko,Blanchard,George - J Phys Chem C納米材料界麵。科羅拉多州 – 2018

在W(100)上Ba-Sc-O脫附的實驗中俄歇電子能譜與微同步輻射x射線光電子能譜的關聯性研究 -孟彩霞,李一凡,吳浩,魏偉,寧豔曉,崔毅,傅強,寶鑫和 - 物理化學 化學 化學 物理 – 2018

利用AIMS診斷功能用於托卡馬克磁約束聚變環流器內部的高Z位置的侵蝕測量的一種離子束原位分析方法的開發和測試 - Leigh A. Kesler,麻省理工學院 – 2019

Pt(111)表麵的h-BN在氧氛環境內的結構轉變- Mroz,Kordesch,Sadowski,Tenney,Eads - 真空科學與技術雜誌,B.Brookhaven國家實驗室 – 2020

SO2在石墨烯上的吸附和反應動力學:超高真空表麵科學研究- Stach,Johnson,Stevens,Burghaus - 真空科學與技術雜誌,北達科他州 – 2021

電子增強原子層低溫沉積鈷膜的空心陰極等離子體電子源 - Sobell1,Cavanagh1,Boris,Walton,George - 真空科學與技術雜誌,U. Colorado,海軍研究實驗室 - 2021

microCMA 是一個高度集成、即插即用的AES解決方案,適合需要快速、定量表麵元素分析的用戶。其小巧的設計使其能夠靈活集成到現有真空係統中,降低了AES技術的使用門檻,同時保持了傳統CMA的檢測性能,

在學術研究與工業質檢中均有實用價值。




俄歇電子能量譜組件

俄歇電子能量譜組件

分享

分享到微信

×
俄歇電子能量譜組件是利用高能電子束激發樣品表麵原子,發射具有元素特征能量的俄歇電子。可進行表麵微區分析(得益於電子束可聚焦掃描),能獲得元素分布圖像(俄歇元素像)。應用於材料表麵分析、催化、吸附、腐蝕、磨損等研究。
產品詳情

俄歇電子能譜組件(AES、Auger)是一種利用高能電子束為激發源的表麵分析技術. AES分析區域受激原子發射出具有元素特征的俄歇電子。俄歇電子在固體中運行也同樣要經曆頻繁的非彈性散射,能逸出固體表麵的

隻是表麵幾層原子所產生的俄歇電子,這些電子的能量大體上處於 10~500電子伏,它們的平均自由程很短,大約為5~20埃,因此俄歇電子能譜所考察的隻是固體的表麵層。俄歇電子能譜通常用電子束作輻射源,電

子束可以聚焦、掃(sao)描(miao),因(yin)此(ci)俄(e)歇(xie)電(dian)子(zi)能(neng)譜(pu)可(ke)以(yi)作(zuo)表(biao)麵(mian)微(wei)區(qu)分(fen)析(xi),並(bing)且(qie)可(ke)以(yi)從(cong)熒(ying)光(guang)屏(ping)上(shang)直(zhi)接(jie)獲(huo)得(de)俄(e)歇(xie)元(yuan)素(su)像(xiang)。是(shi)考(kao)察(cha)固(gu)體(ti)表(biao)麵(mian)的(de)強(qiang)有(you)力(li)工(gong)具(ju),用(yong)於(yu)各(ge)種(zhong)材(cai)料(liao)分(fen)析(xi)以(yi)及(ji)催(cui)化(hua)、吸附、腐蝕、磨損等方麵的研究。

我司的microCMA 操作簡單,易於維護,提供完整的定量表麵敏感元素俄歇電子 (AES) 分析儀套件,可安裝在 2.75" / 70 mm CF 法蘭上,光學元件末端到采樣距離為4 mm由於microCMA非常小,因此同軸內置

電子槍被限製在3 kV。對於元素分析,microCMA比單獨的XPS係統便宜得多。 完整的AES係統包括圓柱形鏡麵分析儀(帶有集成的同軸電子槍),USB接口控製器以及Windows采集和數據按摩軟件。讓俄歇分析變

得簡單! 

microCMA是一款俄歇光譜圓柱鏡分析儀,專為許多不需要AES映射功能的俄歇分析應用而設計,這些應用包括分析:

  • 薄膜元素組合物

  • 樣品清潔度

  • 金屬成分熱氧化物

  • 輕元素表麵膜的量化

特征:

緊湊的結構:適用於 2.75" / 70 mm CF 法蘭(1.52" / 38.6 mm 內徑管)。 現在可以隻用一個T型離子泵構建一個俄歇光譜係統!

久經考驗的設計:柱麵鏡分析器的二階聚焦提供了良好的傳遞效果和優異分辨率。

易於使用:USB控製和俄歇數據信息分析軟件界麵易於使用,使俄歇分析變得容易。

強力功能:俄歇光譜(AES)是一種可為您提供樣品表麵數層的定量信息的強力表麵靈敏技術。

優勢:

microCMA的小直徑使其適合現有的沉積或分析室。

由於microCMA基於經典的圓柱形鏡麵分析儀設計,因此與較大的CMA相比,它具有相似的信噪比。基本上,microCMA收集的電子與較大的CMA相同;它隻是收集更接近樣品的電子。

集成的 3 kV 電子槍簡化了 CMA 到樣品的對準。

電子槍具有自動功能,例如熱身和調節。

microCMA非常適合薄膜的元素表麵分析和檢查樣品的清潔度。

CMapp Auger 軟件提供對采集參數的完全控製,然後量化采集後的數據。

應用參考:

室溫和100℃環境下利用連續表麵反應進行結晶氮化镓薄膜的電子增強生長 - Sprenger,Sun,Cavanagh,Roshko,Blanchard,George,材料化學,U. Colorado – 2016

抑製二次電子噪聲的微型柱麵鏡俄歇電子能量分析儀的設計與仿真 - Jay A. Bieber,南佛羅裏達大學 – 2017

在室溫和100°C下氮化硼薄膜的電子增強原子層沉積 - Sprenger,Sun,Cavanagh,Roshko,Blanchard,George - J Phys Chem C納米材料界麵。科羅拉多州 – 2018

在W(100)上Ba-Sc-O脫附的實驗中俄歇電子能譜與微同步輻射x射線光電子能譜的關聯性研究 -孟彩霞,李一凡,吳浩,魏偉,寧豔曉,崔毅,傅強,寶鑫和 - 物理化學 化學 化學 物理 – 2018

利用AIMS診斷功能用於托卡馬克磁約束聚變環流器內部的高Z位置的侵蝕測量的一種離子束原位分析方法的開發和測試 - Leigh A. Kesler,麻省理工學院 – 2019

Pt(111)表麵的h-BN在氧氛環境內的結構轉變- Mroz,Kordesch,Sadowski,Tenney,Eads - 真空科學與技術雜誌,B.Brookhaven國家實驗室 – 2020

SO2在石墨烯上的吸附和反應動力學:超高真空表麵科學研究- Stach,Johnson,Stevens,Burghaus - 真空科學與技術雜誌,北達科他州 – 2021

電子增強原子層低溫沉積鈷膜的空心陰極等離子體電子源 - Sobell1,Cavanagh1,Boris,Walton,George - 真空科學與技術雜誌,U. Colorado,海軍研究實驗室 - 2021

microCMA 是一個高度集成、即插即用的AES解決方案,適合需要快速、定量表麵元素分析的用戶。其小巧的設計使其能夠靈活集成到現有真空係統中,降低了AES技術的使用門檻,同時保持了傳統CMA的檢測性能,

在學術研究與工業質檢中均有實用價值。




詢價表單

選擇區號