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批次ID讀取器
IDWR係列校準並讀取150(或200)mm批量晶片上的識別標簽。
配備康耐視174的正麵或背麵激光標記/數據矩陣閱讀器#
對齊和讀取前的磁帶映射
通過SECS/GEM主機連接進行PC控製(可選)
觸摸屏界麵。
典型循環時間:2分鍾(25個晶圓,包括每個晶圓ID的映射、對齊和讀取)
是一款麵向高數據完整性要求的工業級解決方案。
它通過 “映射→對準→讀取” 的標準化流程,確保了整盒晶圓身份信息采集的100%覆蓋率和極高準確率。
雖然耗時比讀取一片的讀取器的耗時長,但它提供的單晶圓級數據粒度是現代半導體智能製造,尤其是小批量、多品種、高附加值產品生產中的關鍵需求。
Model | Wafer Size | Description |
IDWR200 | 200 mm | Batch ID Reader |
IDWR150 | 150 mm | Batch ID Reader |
批次ID讀取器
IDWR係列校準並讀取150(或200)mm批量晶片上的識別標簽。
配備康耐視174的正麵或背麵激光標記/數據矩陣閱讀器#
對齊和讀取前的磁帶映射
通過SECS/GEM主機連接進行PC控製(可選)
觸摸屏界麵。
典型循環時間:2分鍾(25個晶圓,包括每個晶圓ID的映射、對齊和讀取)
是一款麵向高數據完整性要求的工業級解決方案。
它通過 “映射→對準→讀取” 的標準化流程,確保了整盒晶圓身份信息采集的100%覆蓋率和極高準確率。
雖然耗時比讀取一片的讀取器的耗時長,但它提供的單晶圓級數據粒度是現代半導體智能製造,尤其是小批量、多品種、高附加值產品生產中的關鍵需求。
Model | Wafer Size | Description |
IDWR200 | 200 mm | Batch ID Reader |
IDWR150 | 150 mm | Batch ID Reader |
