氣氛可控開爾文探針

開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置用於導電材料的功函或半導體或絕緣體材料表麵的表麵電勢，表麵功函由材料表麵頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表麵分析技術，

KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業界高分辨率的測試係統。

RHC020 氣氛控製掃描開爾文探針是控製氣氛檢測樣品的理想解決方案，50x50mm樣品加熱器可將樣品溫度升至100℃，采用先進的電子和硬件係統即時監測控製溫度和濕度變化，附加表麵光伏SPV020及表麵光

電壓譜SPS030模塊
，可對光敏感樣品進行強度或波長可變的激發。

技術參數：

● 2mm和50μm探針

● 功函分辨率1-3meV（2mm探針），5-10meV（50μm探針，光學防震台）

● 50mmX50mm掃描麵積

● 318納米定位分辨率

● 跟蹤係統自動控製樣品和探針距離● 附加手動高度控製（25.4mm KP 平移）

● 過零信號檢測係統抑製寄生電容

● 50mmX50mm樣品加熱器

● 自動相對濕度控製至1%（10-100%RH）

選件:

● 直插型探針支架：2mm-50μm

● 自動溫度控製

● 表麵光伏模塊SPV020和SPS030

RHC020是開爾文探針技術從靜態表征邁向動態環境模擬的裏程碑式產品。它超越了單純的測量工具範疇
，成為一個可精確設定條件的“材料表麵行為反應箱”，尤其適合研究環境穩定性至關重要的下一代功能材料與器件。