薄膜電阻及厚度測試儀

薄(bo)膜(mo)電(dian)阻(zu)及(ji)厚(hou)度(du)測(ce)試(shi)儀(yi)采(cai)用(yong)渦(wo)流(liu)檢(jian)測(ce)技(ji)術(shu)，可(ke)按(an)照(zhao)需(xu)求(qiu)配(pei)置(zhi)單(dan)個(ge)或(huo)多(duo)個(ge)針(zhen)對(dui)不(bu)同(tong)樣(yang)品(pin)的(de)高(gao)敏(min)感(gan)探(tan)頭(tou)進(jin)行(xing)測(ce)量(liang)，並(bing)通(tong)過(guo)顯(xian)示(shi)模(mo)塊(kuai)輸(shu)出(chu)。檢(jian)測(ce)輸(shu)出(chu)結(jie)果(guo)可(ke)顯(xian)示(shi)為(wei)薄(bo)膜(mo)電(dian)阻(zu)（Ohms/sq），薄膜電導(Mhos/sq），厚度(單位：um）

等。

渦流技術：渦(wo)流(liu)檢(jian)測(ce)儀(yi)的(de)基(ji)本(ben)要(yao)素(su)是(shi)感(gan)應(ying)探(tan)頭(tou)。通(tong)過(guo)交(jiao)流(liu)電(dian)流(liu)產(chan)生(sheng)一(yi)個(ge)磁(ci)場(chang)，當(dang)磁(ci)場(chang)與(yu)導(dao)電(dian)材(cai)料(liao)接(jie)觸(chu)時(shi)
，則(ze)會(hui)在(zai)該(gai)材(cai)料(liao)中(zhong)感(gan)應(ying)到(dao)渦(wo)流(liu)。測(ce)試(shi)材(cai)料(liao)的(de)特(te)性(xing)可(ke)產(chan)生(sheng)一(yi)係(xi)列(lie)獨(du)特(te)結(jie)果(guo)，可(ke)用(yong)來(lai)測(ce)量(liang)材(cai)料(liao)的(de)薄(bo)膜(mo)電(dian)阻(zu)。 評估對象隻與材

料接觸的磁場。此磁場相對較弱，不會產生熱能，因此不會破壞材料。渦流技術相比接觸式測量法（例如四探針測試法）有著諸多優勢,與此同時：不破壞材料

，讀取絕緣層內的導電層，采樣頻率高達數萬。

典型用途：

• 防靜電/導電薄膜

• 天線

• 汽車

• 電池

• 裝飾薄膜/紙張

• 顯示器

• 花線電路和柔性電路板

• 電鍍

• 玻璃窗

• 金屬化電容用箔

• 金屬化標簽

• 微波感應器

• 包裝

• 雷達吸波材料

• 反射和反光材料

• 半導體

• 太陽能

• 透明導電膜

這款儀器是麵向現代工業量產和質量控製的利器。它將實驗室級別的薄膜電學表征能力
，以非接觸、高速度的方式帶到了生產線上，特別在顯示、光伏、柔性電子等製造領域具有不可替代的價值。